ISO 29301:2017
p
ISO 29301:2017
70360
Indisponible en français

Résumé

 Preview

ISO 29301:2017 specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon. This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar. This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).


Informations générales 

  •  :  Publiée
     : 2017-12
  •  : 2
  •  : ISO/TC 202/SC 3 Microscopie analytique à électrons
  •  :
    37.020 Matériel optique

Acheter cette norme

fr
Format Langue
std 1 166 PDF + ePub
std 2 166 Papier
  • CHF166

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Suivez l'actualité de l'ISO

Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.