Resumen
ISO 19606:2017 describes a method to evaluate the adequateness of a probe tip for fine-ceramic thin-film surface roughness measurements by atomic force microscopy, of surfaces with an arithmetical mean roughness, Ra, in the range of about 1 nm to 30 nm and a mean width of roughness profile elements, RSm, in the range of about 0,04 μm to 2,5 μm.
Informaciones generales
-
Estado: En desarrolloEtapa: Texto final recibido o FDIS registrado para su aprobación formal [50.00]
-
Edición: 2
-
Comité Técnico :ISO/TC 206ICS :81.060.30
- RSS actualizaciones
Ciclo de vida
-
Anteriormente
PublicadoISO 19606:2017
-
Ahora
¿Tiene alguna duda?
Consulte nuestras Ayuda y asistencia
Atención al cliente
+41 22 749 08 88
Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)