International Standard
ISO 24173:2024
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Reference number
ISO 24173:2024
Edition 2
2024-02
Preview
ISO 24173:2024
82749
No disponible en español
Publicado (Edición 2, 2024)

ISO 24173:2024

ISO 24173:2024
82749
Idioma
Formato
CHF 173
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Resumen

This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Informaciones generales

  •  : Publicado
     : 2024-02
    : Norma Internacional publicada [60.60]
  •  : 2
     : 40
  • ISO/TC 202
    71.040.50 
  • RSS actualizaciones

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