Reference number
ISO 16700:2016
International Standard
ISO 16700:2016
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Edition 2
2016-08
Preview
ISO 16700:2016
65375
No disponible en español
Publicado (Edición 2, 2016)
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ISO 16700:2016

ISO 16700:2016
65375
Idioma
Formato
CHF 96
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Resumen

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Informaciones generales

  •  : Publicado
     : 2016-08
    : Norma Internacional confirmada [90.93]
  •  : 2
     : 18
  • ISO/TC 202/SC 4
    37.020 
  • RSS actualizaciones

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