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Estado : Publicado (En proceso de revisión)

Esta norma se revisó y confirmó por última vez en 2019. Por lo tanto, esta versión es la actual.
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Resumen

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

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Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2014-01
    Etapa
    : Norma Internacional en proceso de revisión sistemática [90.20]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 10
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.99 
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