ISO 17901-2:2015
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ISO 17901-2:2015
60947
No disponible en español

Estado : Publicado (En proceso de revisión)

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  • CHF129
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Resumen

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.

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Informaciones generales

  •  : Publicado
     : 2015-07
    : Norma Internacional confirmada [90.93]
  •  : 1
     : 20
  • ISO/TC 172/SC 9
    31.020 
  • RSS actualizaciones

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