International Standard
ISO 18118:2024
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Reference number
ISO 18118:2024
Edition 3
2024-02
Preview
ISO 18118:2024
81742
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 3, 2024)

ISO 18118:2024

ISO 18118:2024
81742
Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2024-02
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 3
  • ISO/TC 201/SC 7
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ