ISO 24688:2022
p
ISO 24688:2022
79454
недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано

ru
Формат Язык
std 1 63 PDF + ePub
std 2 63 Бумажный
  • CHF63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies the substrate conditions and testing of the modulation period (including the principles for low-angle X-ray methods, the requirements of the coatings, the requirements for X-ray measuring apparatus, the calibration of apparatus and samples, and the testing conditions and calculation process) of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods including X-ray reflectivity (XRR) and glancing incident X-ray diffraction (GIXRD).

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2022-07
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 107/SC 9
    25.220.01 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)