Тезис
PreviewThis document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement standards.
Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2021-12
-
Версия: 2
-
Технический комитет: ISO/TC 213 Dimensional and geometrical product specifications and verification
-
- ICS :
- 17.040.30 Measuring instruments
Приобрести данный стандарт
ru
Формат | Язык | |
---|---|---|
std 1 124 | PDF + ePub | |
std 2 124 | Бумажный |
- CHF124
Жизненный цикл
-
Ранее
ОтозваноISO 12179:2000
ОтозваноISO 12179:2000/Cor 1:2003
-
Сейчас
ОпубликованоISO 12179:2021
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.92 (Будет пересмотрено)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
-
Будет заменено
В стадии разработкиISO/AWI 12179
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)