недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано (Будет пересмотрено)

Это стандарт будет замененоISO/AWI 12179
Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement standards.

Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.

Standard first page

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2021-12
    Этап
    : Между-народный стандарт подлежит пересмотру [90.92]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 213
    ICS :
    17.040.30 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 17
  6. 17.040
  7. 17.040.30
  8. ISO 12179:2021