недоступно на русском языке

Тезис

 Предпросмотр

This document describes the influence quantities and instrument characteristics of confocal microscopy systems for areal measurement of surface topography. Because surface profiles can be extracted from surface topography images, the methods described in this document can be applied to profiling measurements as well.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Published
    Дата публикации
     : 2019-03
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 213 Dimensional and geometrical product specifications and verification
  • ICS
     :
    17.040.20 Properties of surfaces

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF124

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 17
  6. 17.040
  7. 17.040.20
  8. ISO 25178-607:2019