ISO 16700:2016
p
ISO 16700:2016
65375
недоступно на русском языке
Текущий статус : Опубликовано (Hа стадии пересмотра)
Последний раз этот стандарт был пересмотрен в  2023. Поэтому данная версия остается актуальной
ru
Формат Язык
std 1 92 PDF
std 2 92 Бумажный
  • CHF92
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2016-08
    : Подтверждение действия между-народного стандарта [90.93]
  •  : 2
  • ISO/TC 202/SC 4
    37.020 
  • RSS обновления

Preview 

Предварительно ознакомьтесь с этим стандартом в нашем Он-лайн библиотека стандартов (OBP)

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)