недоступно на русском языке

Тезис

 Предпросмотр

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Published
    Дата публикации
     : 2016-08
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет
     : ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy
  • ICS
     :
    37.020 Optical equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF92

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 4
  6. ISO 16700:2016