Тезис

ISO 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Withdrawn
    Дата публикации
     : 2004-03
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy
  • ICS
     :
    37.020 Optical equipment

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 4
  6. ISO 16700:2004